[发明专利]一种密码芯片、电磁注入检测电路及电磁注入检测方法

说明书

本申请公开了一种密码芯片、电磁注入检测电路及电磁注入检测方法，电磁注入检测电路装配于密码芯片上，且电磁注入检测电路包括：信号生成模块、异或门、延时链模块和判定模组；信号生成模块，用于生成预置类型的周期信号；异或门用于基于防护走线和直连线路信号中的周期信号，生成脉冲信号；延时链模块的第一输入端连接异或门的输出端，第二输入端连接有时钟信号，用于当时钟信号发生变化时，锁存延时链模块中传输的脉冲信号的输出值；判定模组，用于基于输出值，得到密码芯片是否发生电磁注入的检测结果。解决了现有密码芯片的电磁注入检测方法，不能及时发现电磁注入，检测准确率较低的技术问题。

技术领域

本申请涉及信息安全技术领域，尤其涉及一种密码芯片、电磁注入检测电路及电磁注入检测方法。

背景技术

随着信息技术的发展，密码芯片被广泛应用于电子商务、电子政务、通信和军队等领域。安全性是密码芯片的基础要求，研究者提出了诸多的攻击技术对来密码芯片进行攻击，以验证其安全。

电磁注入攻击是一种最具威胁的入侵攻击手段之一，也是目前芯片安全领域的研究热点。因此，对密码芯片的电磁注入进行检测，是有效防止攻击的手段之一。然而现有技术中在对密码芯片的电磁注入进行检测时，不能及时发现电磁注入，检测准确率较低。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种密码芯片、电磁注入检测电路及电磁注入检测方法，可以及时发现电磁注入，提高了对密码芯片电磁注入检测的准确率。

本申请第一方面提供了一种电磁注入检测电路，所述电磁注入检测电路装配于密码芯片上，且所述电磁注入检测电路包括：信号生成模块、异或门、延时链模块和判定模组；

所述信号生成模块，用于生成预置类型的周期信号；

所述异或门的第一输入端通过防护走线连接所述信号生成模块的输出端，第二输入端通过直连线路连接所述信号生成模块的输出端，用于基于所述防护走线和所述直连线路信号中的周期信号，生成脉冲信号；

所述延时链模块的第一输入端连接所述异或门的输出端，第二输入端连接有时钟信号，用于当所述时钟信号发生变化时，锁存所述延时链模块中传输的所述脉冲信号的输出值；

所述判定模组，用于基于所述输出值，得到所述密码芯片是否发生电磁注入的检测结果。

可选地，所述判定模组包括：数据转换模块和结果判定模块；

所述数据转换模块，用于基于所述输出值，确定所述周期信号的信号延时值；

所述判定模块，用于基于所述信号延时值，得到所述密码芯片是否发生电磁注入的检测结果。

可选地，所述基于所述信号延时值，得到所述密码芯片是否发生电磁注入的检测结果，具体包括：

判断所述信号延时值是否大于预设延时阈值，若是，则判定所述密码芯片发生了电磁注入，若否，则判定所述密码芯片未发生电磁注入。

可选地，所述延时链模块由串联的多个信号延时值器构成；

所述信号延时值器包括：寄存器和延时单元，且该信号延时值器中寄存器的第一输入端连接对应延时器的输出端；

所述信号延时值器中寄存器的第二输入端连接所述时钟信号。

可选地，所述周期信号为周期性的高电平信号。

本申请第二方面提供了一种密码芯片，包括：主控模块、加密模块和任一项第一方面所述的电磁注入检测电路；

所述主控模块，用于根据所述电磁注入检测电路输出的检测结果，控制所述加密模块执行对应的操作。

可选地，所述根据所述电磁注入检测电路输出的检测结果，控制所述加密模块执行对应的操作，具体包括：