[发明专利]原位力学测试用推-拉微器械在审
| 申请号： | 202211268663.2 | 申请日： | 2022-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN115683845A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 王超;隋超;张静 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/02;G01N3/06 |
| 代理公司： | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人： | 高媛 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 原位力学测试用推‑拉微器械，属于低维材料测试实验仪器领域。设备层由移动区、固定区及四个弹性元件组成；固定区设有通槽，通槽还贯通绝缘层及把手层的厚度设置，固定区、绝缘层及把手层前侧面设有开口，移动区设置在通槽内，移动区前侧面的凸台一位于开口处，移动区后侧面中部设有凹槽一，固定区的通槽后槽侧壁中部设有凸台二，凹槽一与凸台二相匹配形成具有三处横向间隙的‘互’字形结构，三处横向间隙由前至后为间隙一、间隙二及间隙三；原位拉伸实验时，微纳米试样放置在间隙二处，微纳米试样两端分别固定在固定区和移动区上；四个弹性元件呈矩阵形式固定设置在移动区与固定区的通槽之间。本发明用于对微纳米尺度下材料的力学参数准确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 原位 力学 测试 器械 | ||
【主权项】：
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