[发明专利]一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备有效
| 申请号： | 202211233166.9 | 申请日： | 2022-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN115308517B | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 卓玲佳;夏泽平;丁辰野;叶峰;叶剑军;张洪威 | 申请（专利权）人： | 杭州三海电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 四川中代知识产权代理有限公司 51358 | 代理人： | 李康 |
| 地址： | 311100 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明适用于测量技术领域，提供了一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备，其中一种元器件的老化检测方法，包括如下步骤：获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化。通过本申请提供的方法，避免的因为待测元器件由于电子设备之间的差异，而误判待测元器件的老化情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 元器件 老化 检测 方法 系统 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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