[发明专利]一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备

权利要求书

1.一种元器件的老化检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S100：获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；

步骤S200：将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；其中，第一波动量为待测元器件与第一电子设备连接后获得的第一实际测量值与第一理论值形成的第一差值，第二波动量为待测元器件与第二电子设备连接后获得的第二实际测量值与第二理论值形成的第二差值；

步骤S300：根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化；

步骤S300包括：

步骤S310：若第一波动量小于第一预设波动量时，则判断待测元器件未老化；

步骤S320：若第一波动量不小于第一预设波动量时，则根据待测元器件的第一实际测量值与第一预设理论值来判断待测元器件是否老化；

步骤S320包括：

步骤S321：若第一实际测量值小于第一预设理论值；则判断待测元器件未老化；

步骤S322：若第一实际测量值不小于第一预设理论值，则根据第一预设波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否老化；

步骤S322包括：

所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；

获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元作为第二电子设备，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；

若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。

2.一种元器件的老化检测系统，其特征在于，包括如下模块：

第一获取模块：用于获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；

第二获取模块：用于将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；其中，第一波动量为待测元器件与第一电子设备连接后获得的第一实际测量值与第一理论值形成的第一差值，第二波动量为待测元器件与第二电子设备连接后获得的第二实际测量值与第二理论值形成的第二差值；

判断模块：用于根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化；

判断模块还包括:

若第一波动量小于第一预设波动量时，则判断待测元器件未老化；

若第一波动量不小于第一预设波动量时，则根据待测元器件的第一实际测量值与第一预设理论值来判断待测元器件是否老化；

判断模块还具体包括：

若第一实际测量值小于第一预设理论值；则判断待测元器件未老化；

若第一实际测量值不小于第一预设理论值，则根据第一预设波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否老化；

所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；

获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元作为第二电子设备，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；

若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。

3.一种可读存储介质，其特征在于，用于存储程序，所述存储程序被执行时，用于实现如权利要求1-2任一项所述的元器件的老化检测方法。

4.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或者多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-2任一项所述的元器件的老化检测方法。