[发明专利]一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备

说明书

本发明适用于测量技术领域，提供了一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备，其中一种元器件的老化检测方法，包括如下步骤：获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化。通过本申请提供的方法，避免的因为待测元器件由于电子设备之间的差异，而误判待测元器件的老化情况。

技术领域

本发明涉及一种测量技术领域，尤其是涉及一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备。

背景技术

随着科技的进步，电子技术飞速发展，电子产品作为系统的核心、重要组成部分广泛应用于航空、航天、船舶、兵器、民用工业等各行各业。同时，随着复杂的使用要求和工况的不断涌现，对电子设备整机的精度和可靠性要求越来越高，需要工作人员不断的测试其性能，保证电子产品的正常运行。

电子设备类的产品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件的大量使用，无论是加工缺陷还是元器件缺陷，都可分为明显缺陷和潜在缺陷，明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷，例如短路/断路。然而潜在缺陷导致产品暂时可以使用，但是在使用中缺陷会很快暴露出来，产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现，而是用老化的方法来剔除。

如专利CN114088128A中记载：本发明公开了一种传感器确定方法、装置、存储介质及设备，涉及传感器技术领域，用于确认传感器是否老化，以节省人力资源，包括：获取目标传感器发送的当前采集数据；在目标传感器的当前采集数据满足对应的告警条件的情况下，获取目标参照传感器的当前采集数据；目标参照传感器与目标传感器之间的相关系数大于第一阈值；在目标参照传感器的当前采集数据不满足对应的告警条件的情况下，确定目标传感器为老化传感器。

如专利CN111750925A中记载：本发明实施例提出一种设备老化预测系统、方法和装置，涉及检测技术领域。该设备老化预测系统包括数据获取模块和处理器，数据获取模块与处理器电连接；数据获取模块用于获取被测设备中目标器件的参考数据和实时数据，并将参考数据和实时数据传输至处理器；处理器用于依据参考数据和实时数据获得出厂特征数据、当前特征数据、经历时间和经历工作强度数据；还用于将出厂特征数据、当前特征数据、经历时间、经历工作强度数据和预设工作强度数据输入预测模型中，获得被测设备的老化预测数据。进而使得设备老化预测系统能够准确的预测出被测设备的老化程度。

现有技术中在对元器件在进行老化检测的过程中会出现以下问题，每一个电子设备在出厂的时候，会对应设置一个元器件在该电子设备中安装后允许的误差范围；每一个电子设备即使针对同一个元器件，设置的误差范围也不一样，在做老化试验的过程中，即使同一个元器件在不同批次生产出来的同一个设备中进行测量，其测量结果也是不同的，如元器件在A电子设备中测量的参数不符合误差范围，就会扔了，但其实还存在元器件在B电子设备中测量的参数符合误差范围；若只要元器件在任何一个电子设备中只检测一次，且检测结果不合格的话，就扔掉，可能出出现扔错的情况。

发明内容

本发明的目的是提供一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备，来解决现有技术中存在的上述技术问题，主要包括以下四个方面：

本申请第一方面提供了一种元器件的老化检测方法，包括如下步骤：

步骤S100：获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；

步骤S200：将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；其中，第一波动量为待测元器件与第一电子设备连接后获得的第一实际测量值与第一理论值形成的第一差值，第二波动量为待测元器件与第二电子设备连接后获得的第二实际测量值与第二理论值形成的第二差值；