[发明专利]一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法在审
| 申请号： | 202211230506.2 | 申请日： | 2022-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN115655101A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 余华昌;毛志勇;陈继刚;王祥;祝卿;沈惠峰;武博 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 唐敏 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，包括下述步骤：将左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)置于将被测量的火箭筒段(6)的左右两侧；将被测量的火箭筒段(6)的置于测量区域内，将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上，并使基准刻线测量引导装置(3)对齐基准刻线(5)；安装标准靶球(4)；获得火箭筒段(6)标准靶球(4)坐标；测量获取的标准靶球(4)点坐标进行空间点坐标换算，从而实现对基准刻线偏扭的测量。本发明能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量，该测量方法具有操作简单、通用性强、测量准确度高、测量稳定性高、工作可靠等优点，实用性与经济效益显著。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 火箭筒 基准 刻线偏扭 测量方法 | ||
【主权项】：
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