[发明专利]一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法在审

专利信息
申请号: 202211230506.2 申请日: 2022-10-08
公开(公告)号: CN115655101A 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 余华昌;毛志勇;陈继刚;王祥;祝卿;沈惠峰;武博 申请(专利权)人: 上海精密计量测试研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 唐敏
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 火箭筒 基准 刻线偏扭 测量方法
【说明书】:

本发明提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法,其特征在于,包括下述步骤:将左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)置于将被测量的火箭筒段(6)的左右两侧;将被测量的火箭筒段(6)的置于测量区域内,将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上,并使基准刻线测量引导装置(3)对齐基准刻线(5);安装标准靶球(4);获得火箭筒段(6)标准靶球(4)坐标;测量获取的标准靶球(4)点坐标进行空间点坐标换算,从而实现对基准刻线偏扭的测量。本发明能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量,该测量方法具有操作简单、通用性强、测量准确度高、测量稳定性高、工作可靠等优点,实用性与经济效益显著。

技术领域

本发明涉及大型零部件测量领域,尤其涉及火箭筒段基准刻线偏扭测量方法。

背景技术

火箭筒段具有一定的长度,长1000~3000mm,因重量及热变形等因素,筒段在生产时会产生一定的偏扭,该偏扭会对筒段与筒段之间的联接产生影响,因此在每次筒段联接前,需要对每个筒段的偏扭进行测量,当偏扭量不超过技术要求时,则可进行筒段与筒段的联接作业。

火箭筒段的偏扭通过测量筒段两端基准刻线的偏扭来确定。每根基准刻线为宽0.1~0.2mm、深0.1~0.2mm、长15~20mm的细长刻线。需要将筒段两端各四根基准刻线同时测出,并确定相互间的位置关系,火箭筒段两端基准刻线偏扭误差要求为±0.3mm。

发明内容

为了解决上述技术问题,本专利设计出一套采用激光雷达、基准刻线测量引导装置为测量装置,结合空间点坐标换算算法来实现基准刻线偏扭的测量。

为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法,其特征在于,包括下述步骤:

步骤1,将左侧激光雷达1、右侧激光雷达2置于将被测量的火箭筒段6的左右两侧,获得左侧激光雷达1和右侧激光雷达2的坐标;

步骤2,将被测量的长度为LH的火箭筒段6的置于左侧激光雷达1、右侧激光雷达2之间的测量区域内,在火箭筒段6的基准刻线5的地方,将基准刻线测量引导装置3装在火箭筒段法兰盘7上,并使基准刻线测量引导装置3对齐基准刻线5;

步骤3,在基准刻线测量引导装置3上安装标准靶球4;

步骤4,通过左侧激光雷达1测量获得火箭筒段6左侧的标准靶球4坐标,通过右侧激光雷达2测量获得火箭筒段6右侧的标准靶球4坐标;

步骤5,测量获取的标准靶球4点坐标进行空间点坐标换算,测得火箭筒段两端基准刻线的位置关系,从而实现对基准刻线偏扭的测量。

进一步的是,在步骤1中,将左侧激光雷达1、右侧激光雷达2置于被测量火箭筒段的左右两侧,并固定测量位置,这两个固定测量位置通过相互标定,确定相互之间的位置关系。

进一步的是,在步骤1中,左侧激光雷达1的坐标为p0(x0,y0,z0),右侧激光雷达2的坐标为p1(x1,y1,z1)。

进一步的是,每条基准刻线5均配有一个基准刻线测量引导装置3,在每条基准刻线5的地方,将基准刻线测量引导装置3装在火箭筒段法兰盘7上,并在每个基准刻线测量引导装置3上安装标准靶球4。

进一步的是,在步骤5中,测量获取的标准靶球4点坐标通过Polyworks,Geomagic,Cyclone,RealWork,或SA软件进行空间点坐标换算。

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