[发明专利]一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法

权利要求书

1.一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，包括下述步骤：

步骤1，将左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)置于将被测量的火箭筒段(6)的左右两侧，获得左侧激光雷达(1)和右侧激光雷达(2)的坐标；

步骤2，将被测量的长度为L_H的火箭筒段(6)的置于左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)之间的测量区域内，在火箭筒段(6)的基准刻线(5)的地方，将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上，并使基准刻线测量引导装置(3)对齐基准刻线(5)；

步骤3，在基准刻线测量引导装置(3)上安装标准靶球(4)；

步骤4，通过左侧激光雷达(1)测量获得火箭筒段(6)左侧的标准靶球(4)坐标，通过右侧激光雷达(2)测量获得火箭筒段(6)右侧的标准靶球(4)坐标；

步骤5，测量获取的标准靶球(4)点坐标进行空间点坐标换算，测得火箭筒段两端基准刻线的位置关系，从而实现对基准刻线偏扭的测量。

2.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，在步骤1中，将左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)置于被测量火箭筒段的左右两侧，并固定测量位置，这两个固定测量位置通过相互标定，确定相互之间的位置关系。

3.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，在步骤1中，左侧激光雷达(1)的坐标为p₀(x₀,y₀,z₀)，右侧激光雷达(2)的坐标为p₁(x₁,y₁,z₁)。

4.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，每条基准刻线(5)均配有一个基准刻线测量引导装置(3)，在每条基准刻线(5)的地方，将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上，并在每个基准刻线测量引导装置(3)上安装标准靶球(4)。

5.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，在步骤5中，测量获取的标准靶球(4)点坐标通过Polyworks，Geomagic，Cyclone，RealWork，或SA软件进行空间点坐标换算。

6.如权利要求3所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，在步骤4中，获得火箭筒段(6)左侧的四个标准靶球(4)坐标，分别为p_L1(x_L1,y_L1,z_L1)、p_L2(x_L2,y_L2,z_L2)、p_L3(x_L3,y_L3,z_L3)、p_L4(x_L4,y_L4,z_L4)；获得火箭筒段(6)右侧的四个标准靶球(4)坐标，分别为p_R1(x_R1,y_R1,z_R1)、p_R2(x_R2,y_R2,z_R2)、p_R3(x_R3,y_R3,z_R3)、p_R4(x_R4,y_R4,z_R4)。

7.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，在步骤5中，为了消除火箭筒段放置误差，首先以左侧点建立基于火箭筒段左侧的坐标系。