[发明专利]一种基于多探测器的X射线检测系统和方法在审
申请号: | 202211225762.2 | 申请日: | 2022-10-09 |
公开(公告)号: | CN115436403A | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 张吉东;孟圣斐;宋新月 | 申请(专利权)人: | 苏州锂影科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人: | 李佳川 |
地址: | 215200 江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度假区(太湖新城*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于多探测器的X射线检测系统和方法,涉及缺陷检测技术领域,包括样品盘、第一传送装置、机械手、第二传送装置、X射线源和多探测器模组,样品盘由旋转驱动装置驱动旋转,第一传送装置用于将待测样品传送至匀速旋转的样品盘上,使多个待测样品规整摆放在样品盘上,机械手用于将规整摆放好待测样品的样品盘转移至第二传送装置上,第二传送装置用于将样品盘传送至测试区,多探测器模组包括多个探测器,X射线源和多探测器模组设置于测试区,用于依次对测试区中传送来的样品盘上的各待测样品同时进行X射线成像检测。本发明提供的基于多探测器的X射线检测系统和方法,能够满足多样品、高效率检测的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 探测器 射线 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
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