[发明专利]一种存储器固件检修方法及系统有效

专利信息
申请号: 202211225311.9 申请日: 2022-10-09
公开(公告)号: CN115295061B 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 李庭育;陈育鸣;王展南 申请(专利权)人: 江苏华存电子科技有限公司
主分类号: G11C29/02 分类号: G11C29/02;G11C29/04
代理公司: 南通国鑫智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 32606 代理人: 顾新民
地址: 226000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种存储器固件检修方法及系统,所述方法包括:对待检修存储器进行数据提取,获得所述待检修存储器的设备数据信息;根据所述设备数据信息,确定第一检修参数、第二检修参数以及第三检修参数;对所述第一检修参数、所述第二检修参数以及所述第三检修参数,分别进行参数标签标记,且对标记后的参数进行数据的高级优化,生成高级检修参数;通过所述高级检修参数,对所述待检修存储器的芯片通道进行服务区扫描,获得扫描数据集合;对所述扫描数据集合进行固件数据过滤,获得目标固件数据;对所述目标固件数据进行译码数据提取,获得提取译码数据,且基于所述提取译码数据,对所述目标固件数据进行逻辑数据的镜像提取。
搜索关键词: 一种 存储器 检修 方法 系统
【主权项】:
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