[发明专利]一种存储器固件检修方法及系统

说明书

本发明公开了一种存储器固件检修方法及系统，所述方法包括：对待检修存储器进行数据提取，获得所述待检修存储器的设备数据信息；根据所述设备数据信息，确定第一检修参数、第二检修参数以及第三检修参数；对所述第一检修参数、所述第二检修参数以及所述第三检修参数，分别进行参数标签标记，且对标记后的参数进行数据的高级优化，生成高级检修参数；通过所述高级检修参数，对所述待检修存储器的芯片通道进行服务区扫描，获得扫描数据集合；对所述扫描数据集合进行固件数据过滤，获得目标固件数据；对所述目标固件数据进行译码数据提取，获得提取译码数据，且基于所述提取译码数据，对所述目标固件数据进行逻辑数据的镜像提取。

技术领域

本发明涉及数据处理领域，尤其涉及一种存储器固件检修方法及系统。

背景技术

存储器是现代信息技术中用于保存信息的记忆设备。其概念很广，有很多层次，在数字系统中，只要能保存二进制数据的都可以是存储器；在集成电路中，一个没有实物形式的具有存储功能的电路也叫存储器，如RAM、FIFO等；在系统中，具有实物形式的存储设备也叫存储器，如内存条、TF卡等。计算机中全部信息，包括输入的原始数据、计算机程序、中间运行结果和最终运行结果都保存在存储器中。

固件是指设备内部保存的设备“驱动程序”，通过固件，操作系统才能按照标准的设备驱动实现特定机器的运行动作。通常，基于闪存的固态硬盘，采用FLASH芯片作为存储介质，这也是通常所说的SSD。它的外观可以被制作成多种模样，例如：笔记本硬盘、微硬盘、存储卡、U盘等样式。这种SSD固态硬盘最大的优点就是可以移动，而且数据保护不受电源控制，能适应于各种环境，适合于个人用户使用。

然而，现有技术中存在利用固态硬盘的存储介质对数据进行流通调取过程中，无法对芯片通道覆盖的关键扇区数据进行快速检修，使得数据的调取响应速率大大降低的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种存储器固件检修方法及系统，用以解决现有技术中利用固态硬盘的存储介质对数据进行流通调取过程中，无法对芯片通道覆盖的关键扇区数据进行快速检修，使得数据的调取响应速率大大降低的技术问题。

鉴于上述问题，本发明提供了一种存储器固件检修方法及系统。

第一方面，本发明提供了一种存储器固件检修方法，所述方法包括：对待检修存储器进行数据提取，获得所述待检修存储器的设备数据信息；根据所述设备数据信息，确定第一检修参数、第二检修参数以及第三检修参数；对所述第一检修参数、所述第二检修参数以及所述第三检修参数，分别进行参数标签标记，且对标记后的参数进行数据的高级优化，生成高级检修参数；通过所述高级检修参数，对所述待检修存储器的芯片通道进行服务区扫描，获得扫描数据集合；对所述扫描数据集合进行固件数据过滤，获得目标固件数据；对所述目标固件数据进行译码数据提取，获得提取译码数据，且基于所述提取译码数据，对所述目标固件数据进行逻辑数据的镜像提取。

另一方面，本发明还提供了一种存储器固件检修系统，用于执行如第一方面所述的一种存储器固件检修方法，其中，所述系统包括：第一提取单元，所述第一提取单元用于对待检修存储器进行数据提取，获得所述待检修存储器的设备数据信息；第一确定单元，所述第一确定单元用于根据所述设备数据信息，确定第一检修参数、第二检修参数以及第三检修参数；第一标记单元，所述第一标记单元用于对所述第一检修参数、所述第二检修参数以及所述第三检修参数，分别进行参数标签标记，且对标记后的参数进行数据的高级优化，生成高级检修参数；第一扫描单元，所述第一扫描单元用于通过所述高级检修参数，对所述待检修存储器的芯片通道进行服务区扫描，获得扫描数据集合；第一过滤单元，所述第一过滤单元用于对所述扫描数据集合进行固件数据过滤，获得目标固件数据；第二提取单元，所述第二提取单元用于对所述目标固件数据进行译码数据提取，获得提取译码数据，且基于所述提取译码数据，对所述目标固件数据进行逻辑数据的镜像提取。

第三方面，一种电子设备，其中，包括处理器和存储器；

该存储器，用于存储；