[发明专利]一种串扰测试组件和串扰测试方法有效
| 申请号： | 202211219129.2 | 申请日： | 2022-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN115291089B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 本源量子计算科技（合肥）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种串扰测试组件和串扰测试方法，属于量子芯片制造领域。串扰测试组件包括彼此耦合的第一和第二线路。其中，第二线路有多条，且其中的部分配置有串扰抑制单元，而另一部分则未配置串扰抑制单元。串扰抑制单元可以通过设置到第一和第二线路的耦合区域的抑制元件，对两线路之间的串扰进行弱化。该串扰测试组件具有便于进行构造的特点，并且还能够实现在一套配置方案的情况下对多种抑制元件的设计方案进行测试，从而可以避免针对每种设计方案单独地进行测试资源配置，进而节约了测试资源、提高了测试效率和测试资源的利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 组件 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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