[发明专利]失效单元测试方法及装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202211203608.5 | 申请日： | 2022-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN115565592A | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 朱皖江;黄建钦 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 张旭庆 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种失效单元测试方法、失效单元测试装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该失效单元测试方法包括：向存储器的存储阵列中写入测试数据；向存储器发送目标字线跳变指令，以控制存储阵列打开目标字线周边的字线；向存储器发送刷新指令，以控制存储阵列对目标字线周边的字线执行刷新操作；读取目标字线中的数据，并将读取的数据与目标字线中写入的测试数据进行比较，以确定存储阵列中的失效单元。提供了一种有效检测失效单元的测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 失效 单元测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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