[发明专利]一种双栅大电阻一体化器件、制备方法及射频前端在审
| 申请号: | 202211179100.6 | 申请日: | 2022-09-26 |
| 公开(公告)号: | CN115863421A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
| 发明(设计)人: | 邹旭;张濛;马晓华;武玫;侯斌;杨凌 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L29/423;H01L21/331 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 王丹 |
| 地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种双栅大电阻一体化器件、制备方法及射频前端,该器件自下而上依次包括:衬底层、缓冲层、沟道层和势垒层,其中,势垒层上设置有钝化层;钝化层上设置有两个刻蚀至势垒层上表面的凹槽,两个凹槽内分别形成有用做功放的T型射频栅和用作开关的T型直流栅,且T型射频栅和T型直流栅的栅脚插入凹槽,栅帽覆盖于栅脚及凹槽两侧的钝化层上;直流栅连接有阻值大于10kΩ的栅极电阻;在沟道层上且势垒层的两端分别设置有源极和漏极;对T型直流栅施加不同的电压,可控制二维电子气沟道的开启程度,以实现功放器件的增益调节。本发明可以使得射频前端芯片面积大幅度缩减,且可以提高击穿电压,同时插入损耗减小,隔离度稳定性提高。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 双栅大 电阻 一体化 器件 制备 方法 射频 前端 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202211179100.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类





