[发明专利]一种基模高斯激光远场发散角测试方法及机构在审
| 申请号： | 202211155913.1 | 申请日： | 2022-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN115356088A | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 马烈;张国强;高世杰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人： | 王婷婷 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基摸高斯激光远场发散角测试方法及机构，属于激光通信系统测试技术领域，本发明基摸高斯激光远场发散角测试机构包括：承载镜筒的方位俯仰调整台、设置在方位俯仰调整台一侧用于衰减待测激光的光衰减器；以及设置在方位俯仰调整台另一侧的自准直仪；镜筒位于自准直仪侧安装有红外相机、镜筒位于光衰减器侧安装有施密特校正板；待测激光光路经过光衰减器、施密特校正板后入射到镜筒内、并在镜筒内依次经过主镜、次镜反射后打到红外相机靶面，且次镜设置在主镜位于施密特校正板侧，本发明基于施密特‑卡塞格林成像镜头，具有测量精度高、口径大、焦距长，有利于减轻衍射对测量结果的影响；结构紧凑、测量时装调难度低的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基模高斯 激光 发散 测试 方法 机构 | ||
【主权项】：
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