[发明专利]一种基模高斯激光远场发散角测试方法及机构在审
申请号: | 202211155913.1 | 申请日: | 2022-09-22 |
公开(公告)号: | CN115356088A | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 马烈;张国强;高世杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 王婷婷 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基模高斯 激光 发散 测试 方法 机构 | ||
1.一种基摸高斯激光远场发散角测试机构,其特征在于,包括:
承载镜筒(10)的方位俯仰调整台(2)、设置在所述方位俯仰调整台(2)一侧用于衰减待测激光的光衰减器(1);以及
设置在所述方位俯仰调整台(2)另一侧的自准直仪(11);
所述镜筒(10)位于所述自准直仪(11)侧安装有红外相机(6)、所述镜筒(10)位于所述光衰减器1侧安装有施密特校正板(3);
其中,所述待测激光光路经过所述光衰减器(1)、所述施密特校正板(3)后入射到所述镜筒(10)内、并在所述镜筒(10)内依次经过主镜(4)、次镜(5)反射后打到所述红外相机(6)靶面,且所述次镜(5)设置在所述主镜(4)位于所述施密特校正板(3)侧。
2.根据权利要求1所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试机构,其特征在于;
所述镜筒(10)装设有能够伸入所述镜筒(10)内部的调焦旋钮(7),从而驱动所述主镜(4)朝向或远离所述次镜(5)方向位移。
3.根据权利要求2所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试机构,其特征在于;
所述镜筒(10)内形成有用于容纳所述主镜(4)和所述次镜(5)的容置腔,所述容置腔通过导轨(9)沿所述待测激光光路入射方向滑动连接有用于承载所述主镜(4)的支架(8),且所述镜筒(10)一端通过所述施密特校正板(3)封盖所述容置腔,所述施密特校正板(3)粘接有所述次镜(5)。
4.根据权利要求3所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试机构,其特征在于;
所述支架(8)中部开设有直径不小于所述主镜(4)出光孔的出光通道,以便所述待测激光出射光路经过所述出光通道打到所述红外相机(6)靶面,其中,所述镜筒(10)端部开设有所述调焦旋钮(7)能够穿过的通孔,所述调焦旋钮(7)末端与所述支架(8)固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试机构,其特征在于;
所述镜筒(10)一端开设有卡槽,所述卡槽与所述施密特校正板(3)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试机构,其特征在于;
所述镜筒(10)上方装设有反射镜(12),所述反射镜(12)与所述自准直仪(11)相对设置。
7.根据权利要求6所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试机构,其特征在于;
所述镜筒(10)顶端固连有调节支架(13),所述调节支架(13)位于所述自准直仪(11)侧固连有所述反射镜(12)。
8.一种基摸高斯激光远场发散角测试方法,其特征在于,采用权利要求1-6任一项所述的测试方法,该方法包括以下步骤:
步骤一:使用基横模高斯光束,高斯光经过单透镜的光束变换,获得入射高斯光的束腰半径w0,获得入射高斯光束腰到透镜前表面的距离l,获得出射高斯光的束腰半径w'0,获得出射高斯光束腰到透镜后表面的距离l',透镜的焦距为F;
步骤二:利用高斯光q参数的ABCD矩阵变换,计算和简化公式。
9.根据权利要求8所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试方法,其特征在于;
经过步骤二计算和化简,得到出射高斯光束腰的位置l'和束腰半径w'0如下所示:
10.根据权利要求9所述的一种基摸高斯激光远场发散角测试方法,其特征在于;
上述步骤二中,当入射高斯光束腰位于透镜前焦面处时,出射高斯光束腰位于透镜后焦面,此时l=l'=F,则束腰半径w'0的公式可化简为:
高斯光远场发散角定义为:
将束腰半径w'0的公式代入高斯光的远场发散角公式,可得:
此处的w'0为当入射高斯光束腰正好在透镜前焦面时,在透镜后焦面处得到的出射高斯光束腰的半径,因此可以通过相机焦面处的光斑尺寸,计算出入射高斯光的远场发散角。
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