[发明专利]修调测试的方法、装置、电子设备和可读存储介质在审
| 申请号： | 202211139867.6 | 申请日： | 2022-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN115424652A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 单晓艳 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种修调测试的方法、装置、电子设备和可读存储介质，涉及半导体测试技术领域。其中，基于分类模型进行修调测试的方法包括：获取集成电路芯片的历史修调测试数据，并将所述历史修调测试数据配置为分类训练样本集；使用分类算法对所述分类训练样本集进行模型训练，得到分类修调模型；将基于所述分类修调模型生成的修调文件发送至测试设备，以使所述测试设备基于所述修调文件对目标芯片的修调电路的电路参数进行修调，并对修调后的所述目标芯片进行测试。通过本公开的技术方案，能够对海量Trim实测数据进行有效可靠利用，基于生成的分类修调模型对待测试的目标芯片进行修调测试，有利于简化测试过程、提高测试效率以及降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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