[发明专利]一种基于LCR数字电桥和Smith圆图的阻抗测试系统有效
| 申请号： | 202211098421.3 | 申请日： | 2022-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN115201570B | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 段京东;赵峰;刘立国 | 申请（专利权）人： | 青岛积成电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 山东祺智知识产权代理有限公司 37361 | 代理人： | 孟繁修 |
| 地址： | 266000 山东省青岛市市*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于阻抗电参数测量技术领域，涉及一种基于LCR数字电桥和Smith圆图的阻抗测试系统，上位机对LCR数字电桥进行参数配置，LCR数字电桥依据上位机的参数配置实施阻抗扫频测试，并将阻抗扫频测试数据传送给上位机，阻抗圆图显示界面包括阻抗圆图显示区域和文本框显示区域，基于Smith圆图的阻抗测试软件模块将LCR数字电桥提供的所有扫频点和所对应的阻抗值显示于阻抗圆图显示区域中，从阻抗扫频测试数据中提取所有的谐振频率和对应的阻抗、工作频率及对应的阻抗显示于文本框显示区域中。本发明实现了超声波传感器的扫频阻抗圆图显示，使得阻抗测试曲线和结果清晰直观，便于测试结果的在线性能分析与优劣判断。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 lcr 数字 电桥 smith 阻抗 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于青岛积成电子股份有限公司，未经青岛积成电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211098421.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
