[发明专利]一种电子元件品质检测筛分系统及方法在审

专利信息
申请号: 202211096549.6 申请日: 2022-09-08
公开(公告)号: CN115445957A 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 徐敏芳;王屹 申请(专利权)人: 徐敏芳
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214124 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种电子元件品质检测筛分系统及方法,属于电子元件质量检测领域,一种电子元件品质检测筛分系统及方法,包括箱体,箱体的内壁上固定安装有加热板,箱体的内底壁上均匀开设有滑槽;箱体的内顶壁上均匀固定安装有检测探头,箱体的内侧壁上水平固定安装有滑轨,滑轨上滑动安装有滑块,滑块的侧壁上水平固定安装有第一电动伸缩杆,第一电动伸缩杆的输出端上设有夹持机构,可以在检测探头、处理器、滑轨、滑块、第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆、吸盘的作用下能够将箱体中已损坏的电子元件及时转移,然后通过第一气动伸缩杆将待检测的电子元件转移到箱体中进行温度检测,提高了箱体内的空间利用率,起到了提高筛分效率的作用。
搜索关键词: 一种 电子元件 品质 检测 筛分 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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