[发明专利]一种电子元件品质检测筛分系统及方法在审
申请号: | 202211096549.6 | 申请日: | 2022-09-08 |
公开(公告)号: | CN115445957A | 公开(公告)日: | 2022-12-09 |
发明(设计)人: | 徐敏芳;王屹 | 申请(专利权)人: | 徐敏芳 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
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地址: | 214124 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子元件 品质 检测 筛分 系统 方法 | ||
本发明公开了一种电子元件品质检测筛分系统及方法,属于电子元件质量检测领域,一种电子元件品质检测筛分系统及方法,包括箱体,箱体的内壁上固定安装有加热板,箱体的内底壁上均匀开设有滑槽;箱体的内顶壁上均匀固定安装有检测探头,箱体的内侧壁上水平固定安装有滑轨,滑轨上滑动安装有滑块,滑块的侧壁上水平固定安装有第一电动伸缩杆,第一电动伸缩杆的输出端上设有夹持机构,可以在检测探头、处理器、滑轨、滑块、第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆、吸盘的作用下能够将箱体中已损坏的电子元件及时转移,然后通过第一气动伸缩杆将待检测的电子元件转移到箱体中进行温度检测,提高了箱体内的空间利用率,起到了提高筛分效率的作用。
技术领域
本发明涉及电子元件质量检测领域,更具体地说,涉及一种电子元件品质检测筛分系统及方法。
背景技术
电子元件是电子电路中的基本元素,当电子元件在生产完成后,总有一部分产品存在一些潜在的缺陷和弱点,在一定的应力条件下表现为早期失效,如果将早期失效的元器件装上整机、设备,就会使得整机、设备的早期失效故障率大幅度增加,需要付出极大的代价来维修,故而需要对电子元件进行检测筛分。
高温筛选是在试验箱内模拟高温条件,对元器件施加高温应力,使得元器件体内和表面的各种物理、化学变化的化学反应速率大大加快,其失效过程也得到加速,使有缺陷的元器件能尽早暴露,在半导体器件上被广泛采用,它能有效地剔除具有表面玷污、键合不良和氧化层缺陷等失效机理的器件。
现有专利(公告号:CN111889147B)一种高低温试验箱,可对测验箱内温度快速改变,并且能够使箱内温度分布恒定均匀,精度高,便于物体检测。
上述专利在工作过程中虽然能够实现精准检测筛分的效果,但仍存在以下不足之处:
在高温筛选过程中,残次品会逐渐暴露出来,当残次品暴露出来之后,上述专利在检测过程中不能够及时地将残次品取出,以至于残次品仍然在试验箱中进行温度检测,造成空间的浪费,因此在需要对大量电子元件进行高温筛分时,需要较长时间才能够对所有的电子元件进行检测筛分,以至于筛分效率较低。
发明内容
1.要解决的技术问题
针对现有技术中存在的问题,本发明的目的在于提供一种电子元件品质检测筛分系统及方法,可以提高筛分效率。
2.技术方案
为解决上述问题,本发明采用如下的技术方案。
一种电子元件品质检测筛分系统及方法,包括箱体,箱体的内壁上固定安装有加热板,箱体的内底壁上均匀开设有滑槽;
箱体的内顶壁上均匀固定安装有检测探头,箱体的内侧壁上水平固定安装有滑轨,滑轨上滑动安装有滑块,滑块的侧壁上水平固定安装有第一电动伸缩杆,第一电动伸缩杆的输出端上设有夹持机构;
箱体的侧壁上固定安装有输出口延伸至箱体内的中转箱和收集箱,且箱体的内壁与收集箱的内壁上分别铰接有第一保温板和第二保温板,中转箱的内顶壁与第二保温板之间固定安装有弹性块,中转箱的输出口与滑槽配合,中转箱内固定安装有漏斗,漏斗包含多个输出端,中转箱的侧壁上均匀水平固定安装有与漏斗输出端配合的第一气动伸缩杆,第一气动伸缩杆的输出端上固定安装有推杆,收集箱上设有与第一气动伸缩杆配合的供气机构。
进一步的,夹持机构包括竖直固定安装在第一电动伸缩杆输出端上的第二电动伸缩杆,第二电动伸缩杆的输出端上固定安装有吸盘;
箱体上固定安装有真空泵,真空泵的进气口上固定安装有与吸盘连通的导管;
箱体内固定嵌设有处理器,箱体的外壁上固定安装有控制面板,加热板、检测探头、滑轨、第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆、控制面板、真空泵均与处理器电性连接。
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