[发明专利]自动光学检测设备、控制方法及存储介质在审
| 申请号： | 202211048404.9 | 申请日： | 2022-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN115452847A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 严正 | 申请（专利权）人： | 深圳市领略数控设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/01 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 杨乾平 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道山厦社区新厦大道102号旭日厂厂房32栋101(在平湖街道新厦大道102*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种自动光学检测设备、控制方法及存储介质，应用于光学检测领域，包括：检测装置用于获取工件的图像；卷料装置包括第一卷料组件和第二卷料组件，第一卷料组件用于将未检测的工件向第二卷料组件传输；控制装置用于在第一卷料组件输出的工件到达待检测位置后，通过预设的触发方式向检测装置发送检测信号以获取工件的图像，并将工件的图像与预设的灰度样本图像进行差值计算，以得到工件的质量数据，根据质量数据，判断是否通过第二卷料组件收卷检测完成的工件。本申请将工件图像与灰度样本图像进行对比分析以实现光学检测，灰度样本图像的使用减轻了工件自身颜色的影响，使得检测设备能够兼容多种颜色的工件，提高了检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 光学 检测 设备 控制 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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