[发明专利]获取测试数据的方法及系统在审
| 申请号： | 202211047964.2 | 申请日： | 2022-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN115309655A | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 周超;王善屹 | 申请（专利权）人： | 华虹半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 214028 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种获取测试数据的方法及系统，其中方法包括：将多个晶圆的测试数据信息上传至云存储空间；对晶圆进行排序，定义晶圆平面坐标系与云存储空间的坐标系之间的函数关系；将每项测试数据信息赋值给云存储空间的坐标对应的云存储空间内；将待测试的晶圆的序号与待调用的晶圆的序号进行比对；将待调用的晶圆的坐标与云存储空间的坐标进行匹配。本申请通过将芯片测试数据信息上传至云存储空间，然后将待测试的晶圆的序号、坐标与云存储空间的晶圆的序号、坐标分别进行匹配，匹配成功就从云存储空间调用芯片的所有die的对应测试项的测试数据信息，解决了芯片测试中如何安全存储各阶段产生的测试数据、高效获取(调用)上述测试数据的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 测试数据 方法 系统 | ||
【主权项】：
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