[发明专利]一种基于LM-TL的增益芯片参数自动测试方法及系统在审
| 申请号： | 202211040772.9 | 申请日： | 2022-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN115326367A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 盛立文;黄琳;乔山;张爱国;刘志明;尹炳琪;张志辉;李鹏;韩纪磊;韦育;张一琪 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 于凤洋 |
| 地址： | 266555 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于LM‑TL的增益芯片参数自动测试方法及系统，涉及芯片测试技术领域,该方法包括：将样品增益芯片接入Littman‑Metcalf型可调谐激光器，设置测试参数，做测试前准备；对样品增益芯片依次进行光功率测试、光波长测试、放大自发辐射光谱测试，得到光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据；对光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据进行分析，判定样品增益芯片是否合格，得到增益芯片参数及测试结果；本发明通过采用宽范围自由空间光外腔扫频激光源作为测试设备，对不同批次、不同波导光束出射角度及不同激射中心波长的半蝶形封装增益芯片特征参数进行自动测试及分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 lm tl 增益 芯片 参数 自动 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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