[发明专利]一种基于TDD技术的S参数测试系统在审
| 申请号： | 202211026704.7 | 申请日： | 2022-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN115436744A | 公开（公告）日： | 2022-12-06 |
| 发明（设计）人： | 陈超;陈柯安;侯善全;温新军 | 申请（专利权）人： | 深圳君鉴科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 安徽顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120 | 代理人： | 高晓静 |
| 地址： | 518107 广东省深圳市光明*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于TDD技术的S参数测试系统，包括：数据总控中心：包括服务器，用于发送软件控制指令以及数据；测试模块：连接测试设备，用于接收测试设备上传的数据，并且向数据总控中心发送测试信息；触发模块：连接触发设备，并且向数据总控中心发送触发信息；NG区域：用于收集不符合测试标准的产品。该种基于TDD技术的S参数测试系统，在多条产线下，每个产线都有不同的工序，每个工序都有可能随机产生停线问题，从而影响到产线测试设备使用率，多个产线使用同一台设备，设计多个触发设备连接在测试设备上，可以提高设备利用率，不会出现多台设备闲置的情况发生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 tdd 技术 参数 测试 系统 | ||
【主权项】：
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