[发明专利]一种基于TDD技术的S参数测试系统

说明书

本发明公开了一种基于TDD技术的S参数测试系统，包括：数据总控中心：包括服务器，用于发送软件控制指令以及数据；测试模块：连接测试设备，用于接收测试设备上传的数据，并且向数据总控中心发送测试信息；触发模块：连接触发设备，并且向数据总控中心发送触发信息；NG区域：用于收集不符合测试标准的产品。该种基于TDD技术的S参数测试系统，在多条产线下，每个产线都有不同的工序，每个工序都有可能随机产生停线问题，从而影响到产线测试设备使用率，多个产线使用同一台设备，设计多个触发设备连接在测试设备上，可以提高设备利用率，不会出现多台设备闲置的情况发生。

技术领域

本发明涉及产品参数测试系统技术领域，具体为一种基于TDD技术的S参数测试系统。

背景技术

随着通信市场日益繁荣，市场规模逐渐扩大。在有限的资源中产生最大的收益，实现降本增效，由于产品产能的周期性，对设备产生了一个动态性，在高峰期设备无法满足产能，淡季很多设备闲置，造成了很大的浪费。TDD(Time Division Duplexing)在移动通信技术使用的双工技术之一，与FDD相对应，是在帧周期的下行线路操作中及时区分无线信道以及继续上行线路操作的一种技术，是一种通信系统的双工方式，在移动通信系统中用于分离接收和传送信道。但在测试中可以利用时域上不同的时隙，把数据传出输到对应的用户上。进而把数据传输到云平台，可以大大地利用云平台本身集成的大数据的运算能力、大数据处理能力和数据挖掘能力，得到被测产品的分析报告，传统测试一台设备一个人，该产线出现异常情况，设备处于闲置状态，降低了设备利用率，因此我们对此做出改进，提出一种基于TDD技术的S参数测试系统。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：

本发明一种基于TDD技术的S参数测试系统，包括：

数据总控中心：包括服务器，用于发送软件控制指令以及数据；

测试模块：连接测试设备，用于接收测试设备上传的数据，并且向数据总控中心发送测试信息；

触发模块：连接触发设备，并且向数据总控中心发送触发信息；

NG区域：用于收集不符合测试标准的产品。

作为本发明的一种优选技术方案，所述数据总控中心包括数据存储模块和数据显示模块，所述数据总控中心分别连接每台触发设备。

作为本发明的一种优选技术方案，所述触发设备包括触发器，所述触发器均与测试模块串联。

作为本发明的一种优选技术方案，所述测试模块等待数据总控中心的指令，当收到指令后，将采集的数据按照一定的排序规则上传给电脑，电脑按照解码的规则进行数据采样，将得到的数据进行存储。

作为本发明的一种优选技术方案，所述触发设备获取测试设备判断的产品测试情况，在测试设备对根据数据情况进行判断后，判断后的结果发送到触发器，为触发器的下一步提供准备。

作为本发明的一种优选技术方案，在所述测试设备对产品进行检测的时候，产品安装到位后，电脑端接收到相应的流水线号码，并且在存储器中匹配对应的产品性能数据，根据产品的性能指标，判断测试后的产品性能，并且将性能参数数据通过曲线方式展示，参数结果上传至数据总控中心的服务器内。

作为本发明的一种优选技术方案，所述测试模块检测完成后，触动触发器，若无质量问题，则系统提示进行下一组产品检测，若出现质量问题，产品则继续在该安装治具上，进行重新检测或者触发器将其移动到NG区域。

本发明的有益效果是：

1、该种基于TDD技术的S参数测试系统，在多条产线下，每个产线都有不同的工序，每个工序都有可能随机产生停线问题，从而影响到产线测试设备使用率，多个产线使用同一台设备，设计多个触发设备连接在测试设备上，可以提高设备利用率，不会出现多台设备闲置的情况发生；