[发明专利]一种基于TDD技术的S参数测试系统在审
申请号: | 202211026704.7 | 申请日: | 2022-08-25 |
公开(公告)号: | CN115436744A | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 陈超;陈柯安;侯善全;温新军 | 申请(专利权)人: | 深圳君鉴科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/01 | 分类号: | G01R31/01 |
代理公司: | 安徽顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120 | 代理人: | 高晓静 |
地址: | 518107 广东省深圳市光明*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 tdd 技术 参数 测试 系统 | ||
1.一种基于TDD技术的S参数测试系统,其特征在于,包括:
数据总控中心:包括服务器,用于发送软件控制指令以及数据;
测试模块:连接测试设备,用于接收测试设备上传的数据,并且向数据总控中心发送测试信息;
触发模块:连接触发设备,并且向数据总控中心发送触发信息;
NG区域:用于收集不符合测试标准的产品。
2.根据权利要求1所述的一种基于TDD技术的S参数测试系统,其特征在于,所述数据总控中心包括数据存储模块和数据显示模块,所述数据总控中心分别连接每台触发设备。
3.根据权利要求1所述的一种基于TDD技术的S参数测试系统,其特征在于,所述触发设备包括触发器,所述触发器均与测试模块串联。
4.根据权利要求1所述的一种基于TDD技术的S参数测试系统,其特征在于,所述测试模块等待数据总控中心的指令,当收到指令后,将采集的数据按照一定的排序规则上传给电脑,电脑按照解码的规则进行数据采样,将得到的数据进行存储。
5.根据权利要求1所述的一种基于TDD技术的S参数测试系统,其特征在于,所述触发设备获取测试设备判断的产品测试情况,在测试设备对根据数据情况进行判断后,判断后的结果发送到触发器,为触发器的下一步提供准备。
6.根据权利要求1所述的一种基于TDD技术的S参数测试系统,其特征在于,在所述测试设备对产品进行检测的时候,产品安装到位后,电脑端接收到相应的流水线号码,并且在存储器中匹配对应的产品性能数据,根据产品的性能指标,判断测试后的产品性能,并且将性能参数数据通过曲线方式展示,参数结果上传至数据总控中心的服务器内。
7.根据权利要求1所述的一种基于TDD技术的S参数测试系统,其特征在于,所述测试模块检测完成后,触动触发器,若无质量问题,则系统提示进行下一组产品检测,若出现质量问题,产品则继续在该安装治具上,进行重新检测或者触发器将其移动到NG区域。
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