[发明专利]一种超稳光学参考腔高精细度的测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 202211025798.6 申请日: 2022-08-25
公开(公告)号: CN115436020A 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 张善超;林芳州;王嘉璇;黄威龙 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 广州容大知识产权代理事务所(普通合伙) 44326 代理人: 潘素云
地址: 510000 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种超稳光学参考腔高精细度的测量方法及装置,激光器输出的激光经过模式匹配透镜组和反射镜组耦合进入超稳光学参考腔,在超稳光学参考腔的共振频率附近缓慢扫描激光频率,通过调整模式匹配透镜组间的距离及优化反射镜组耦合进超稳光学参考腔的入射角度,使激光与腔模达到空间模式匹配,极大地提高了超稳光学参考腔的透射光信号强度;在光路中放置一个光开关,当超稳光学参考腔的透射光信号强度达到设定的阈值时,触发关闭激光,在超稳光学参考腔的透射端获得指数衰减信号,通过拟合得到光腔衰荡时间,通过数值分析得到超稳腔的高精细度和线宽。无需腔长调制及稳频技术就可以测量超稳光学参考腔高精细度,简单,快捷,便于快速测量。
搜索关键词: 一种 光学 参考 精细 测量方法 装置
【主权项】:
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