[发明专利]一种适用于反熔丝FPGA中的电平位移电路有效
申请号: | 202211023226.4 | 申请日: | 2022-08-25 |
公开(公告)号: | CN115102539B | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 张明新;马金龙;曹靓 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | H03K19/0185 | 分类号: | H03K19/0185 |
代理公司: | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路技术领域,特别涉及一种适用于反熔丝FPGA中的电平位移电路,包括PMOS管P1~P4、NMOS管N1~N6和反相器M1;PMOS管P1的源端和衬底均连接编程控制电压VSV,PMOS管P1的漏端连接PMOS管P3的源端,PMOS管P1的栅端连接PMOS管P4的漏端;PMOS管P2的源端和衬底均连接编程控制电压VSV,PMOS管P2的漏端连接PMOS管P4的源端,PMOS管P2的栅端连接PMOS管P3的漏端;所述NMOS管N1的漏端连接PMOS管P3的漏端,以解决目前反熔丝FPGA编程期间低压控制高压的正确转换、以及热载流子效应损伤器件的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 反熔丝 fpga 中的 电平 位移 电路 | ||
【主权项】:
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