[发明专利]一种交流调磁型记忆电机测试方法在审

专利信息
申请号: 202211016313.7 申请日: 2022-08-24
公开(公告)号: CN115356628A 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 林鹤云;仲宇翔;王激尧;阳辉 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01R31/34 分类号: G01R31/34
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 何静
地址: 210096 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种交流调磁型记忆电机测试方法,包括如下步骤:S1、测量记忆电机磁化曲线;S2、根据电机磁化曲线以及实际需求,选择n个记忆电机运行的磁化状态,分别记为MSi;S3、根据磁化曲线,初步估计得到在保证磁化状态MSi不退磁,所能允许施加的最大d轴退磁电流,记为Ide_i;S4、得到准确的退磁电流Ide_i;S5、测量MSi磁化状态下的MTPA轨迹。本发明根据记忆电机特性,给出了交流调磁型记忆电机完善测试的步骤,为该种电机测试提供指导;以实现记忆电机磁化曲线测量,磁化状态选择,不同磁化状态下的退磁特性、MTPA轨迹测量,为记忆电机宽调速运行提供支撑。解决了现有技术中记忆电机测试复杂的问题。
搜索关键词: 一种 交流 调磁型 记忆 电机 测试 方法
【主权项】:
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