[发明专利]一种交流调磁型记忆电机测试方法

说明书

本发明公开一种交流调磁型记忆电机测试方法，包括如下步骤：S1、测量记忆电机磁化曲线；S2、根据电机磁化曲线以及实际需求，选择n个记忆电机运行的磁化状态，分别记为MS_i；S3、根据磁化曲线，初步估计得到在保证磁化状态MS_i不退磁，所能允许施加的最大d轴退磁电流，记为I_de__i；S4、得到准确的退磁电流I_{de_i}；S5、测量MS_i磁化状态下的MTPA轨迹。本发明根据记忆电机特性，给出了交流调磁型记忆电机完善测试的步骤，为该种电机测试提供指导；以实现记忆电机磁化曲线测量，磁化状态选择，不同磁化状态下的退磁特性、MTPA轨迹测量，为记忆电机宽调速运行提供支撑。解决了现有技术中记忆电机测试复杂的问题。

技术领域

本发明属于电机测试领域，具体涉及一种交流调磁型记忆电机测试方法。

背景技术

记忆电机(Memory machine，MM)相较于普通的永磁同步电机，其永磁磁链可变，得到了国内外学者的关注与认可。通常施加直轴(d轴)脉冲电流以改变其内部的低矫顽力永磁体磁化状态(Magnetization state，MS)，从而改变电机的永磁磁链。因此通过调节永磁磁链，可以实现宽调速运行，提高电机运行整体效率。

然而记忆电机磁化状态可调这点，给其样机的测试带来许多麻烦，测试过程中要考虑高磁化状态退磁等问题，因此提出一种交流调磁型记忆电机测试的通用方法，具体包括磁化曲线测量、磁化状态选择，最大转矩电流比(Maximum torque per ampere，MTPA)轨迹是符合实际需要的。

针对上述提出的问题，现设计一种交流调磁型记忆电机测试方法。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种交流调磁型记忆电机测试方法，解决了现有技术中记忆电机测试复杂的问题。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

一种交流调磁型记忆电机测试方法，具体包括如下步骤：

S1、测量记忆电机磁化曲线；

S2、根据电机磁化曲线以及需求，选择n个记忆电机运行的磁化状态，分别记为MS_i，i＝1，2，……，n；

S3、根据磁化曲线，初步估计得到在保证磁化状态MS_i不退磁，所能允许施加的最大d轴退磁电流，记为I_de__i；

S4、在磁化状态MS_i，施加额定q轴电流，d轴电流设置为S3得到的退磁电流估计值I_de__i，运行一段时间后撤去dq轴电流，测量电机反电势判断电机是否被退磁，若电机被退磁，则逐渐减小I_{de_i}的值，重复测量，直到电机不被退磁，得到准确的I_{de_i}，若电机还未退磁，则逐渐增大I_{de_i}的值，直到电机即将退磁；最终得到准确的退磁电流I_{de_i}；

S5、在测量MS_i磁化状态下的MTPA轨迹时，电流矢量I_s超前q轴角度，即电流角α的取值范围为0～α_de，α_de表示为：

进一步的，S1包括如下步骤：

S1.1、利用伺服电机拖动被测电机以固定转速n旋转，记录相反电势峰峰值V_peak，计算得到当前永磁磁链值：

式中，ω_e为电角速度，p为极对数；