[发明专利]环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法在审

专利信息
申请号: 202210984555.9 申请日: 2022-08-17
公开(公告)号: CN115406922A 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 周帆;王月;武金模;刘小勇;付明 申请(专利权)人: 清华大学合肥公共安全研究院
主分类号: G01N25/00 分类号: G01N25/00;G01B21/32
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 于腾昊
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种环温‑辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法,包括:分别构建环温单一测试工况、辐射单一测试工况下,试件热应变测试信号的第一表达式和第二表达式;根据目标环境温度对第一表达式进行求解,得到第一热应变测试信号;根据目标环境温度构建环温传递函数,并根据目标环境温度和传递函数得到弱化环境温度;根据弱化环境温度和辐射强度对第二表达式进行求解,得到第二热应变测试信号;根据传递函数、第一热应变测试信号和第二热应变测试信号,得到环温‑辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号。本发明能够利用在环温、辐射单一环境因素解耦测试下的试件热应变测试信号,得到环温‑辐射耦合测试下的试件热应变测试信号。
搜索关键词: 环温 辐射 耦合 测试 工况 下试件热 应变 方法
【主权项】:
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