[发明专利]环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法

说明书

本发明公开了一种环温‑辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法，包括：分别构建环温单一测试工况、辐射单一测试工况下，试件热应变测试信号的第一表达式和第二表达式；根据目标环境温度对第一表达式进行求解，得到第一热应变测试信号；根据目标环境温度构建环温传递函数，并根据目标环境温度和传递函数得到弱化环境温度；根据弱化环境温度和辐射强度对第二表达式进行求解，得到第二热应变测试信号；根据传递函数、第一热应变测试信号和第二热应变测试信号，得到环温‑辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号。本发明能够利用在环温、辐射单一环境因素解耦测试下的试件热应变测试信号，得到环温‑辐射耦合测试下的试件热应变测试信号。

技术领域

本发明涉及环境模拟测试实验技术领域，特别涉及一种环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法、一种环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试装置和一种电子设备。

背景技术

环境模拟测试试验，是为了试件在预期的使用、运输或贮存的所有环境下，保持试件功能可靠性而进行的活动。具体地，是在室内条件下，利用人工方法模拟自然环境，包括强风、高低温、湿度、太阳辐射、降雨降雪等，对不同的试验件开展各种环境因素单一测试实验或耦合测试实验，以检测在不同环境下试验件的耐受参数，从而为试件在真实环境下的各项性能指标提供理论支持和实践指导。

目前，真实工况下环温和辐射共同作用居多、影响相似、作用最突出。因此，有必要在环境试验舱进行模拟测试，以寻求环温-辐射耦合作用机理。然而，相关技术中大型环境实验舱或步入式环境实验舱的设备受测试环境、测试成本的限制，导致大尺度下的环温-辐射耦合测试环境难以构建。环境模拟设备在耦合测试工况下会降低各个环境因素单独模拟工况的极限参数，导致对试件直接的环温-辐射耦合试验信号与真实工况下的信号之间存在较大差异。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法，以实现利用在环温、辐射单一环境因素解耦测试工况下的试件热应变测试信号，得到环温-辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号。

本发明的第二个目的在于提出一种环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试装置。

本发明的第三个目的在于提出一种电子设备。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法，包括以下步骤：分别构建环温单一测试工况、辐射单一测试工况下，试件热应变测试信号的表达式，得到第一表达式和第二表达式；根据目标环境温度对所述第一表达式进行求解，得到环温单一测试工况下的试件热应变测试信号，记为第一热应变测试信号；根据所述目标环境温度构建环温传递函数，并根据所述目标环境温度和所述传递函数得到弱化环境温度；根据所述弱化环境温度和辐射强度对所述第二表达式进行求解，得到辐射单一测试工况下的试件热应变测试信号，记为第二热应变测试信号；根据所述传递函数、所述第一热应变测试信号和所述第二热应变测试信号，得到环温-辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号。

本发明实施例的环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法，可利用在环温、辐射单一环境因素解耦测试工况下的试件热应变测试信号，得到环温-辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号，解决了大型环境实验舱或步入式环境实验舱因测试温度、测试成本限制而造成对试验件无法开展多环境因素耦合测试的问题。

另外，本发明实施例的环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法还可以具有如下附加技术特征：