[发明专利]一种用于检测激光坏点的方法、装置、介质及设备在审
| 申请号： | 202210983441.2 | 申请日： | 2022-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN115409786A | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 燕宇 | 申请（专利权）人： | 昆山丘钛光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/73;G06V10/82;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 姚萱萱 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于检测激光坏点的方法、装置、介质及设备，方法包括：获取发射激光器的发光点图像，确定所述发光点图像中的目标像素，根据所述目标像素获得待检测图像；创建高斯卷积核模型，基于所述高斯卷积模型对所述待检测图像进行卷积处理，获得特征图；对所述特征图进行非极大值抑制处理，确定出多个参考局部极大值；对所述多个参考局部极大值进行筛选，获得目标极大值；所述目标极大值对应的像素点为坏点；如此，无论是何种型号何种种类的发射激光器，只需获取到发射激光器的发光点图像，利用高斯卷积核模型即可确定出坏点；该测试方法通用性较好，可提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 激光 方法 装置 介质 设备 | ||
【主权项】：
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