[发明专利]利用扰动处理SAR-ADC量化误差校正的方法和系统

摘要

本发明提出了利用扰动处理SAR‑ADC量化误差校正的方法和系统，属于数据处理技术领域，其包括1)SAR‑ADC采样差分模拟信号Vp和Vn；2)对采样的差分模拟信号Vp和Vn进行量化；3)注入扰动周期TD，在扰动周期TD内辅助DAC电容阵列在SAR‑ADC主电容阵列的正相和/或SAR‑ADC主电容阵列的负相分别随机注入扰动VDp与VDn，对差分模拟信号Vp和Vn的最低位数字信号重新进行M次量化，M次量化完成后产生M1个正校正码和M0个负校正码，利用在差分SAR‑ADC量化过程中引入随机扰动的方法，在不改变SAR‑ADC主电容阵列的情况下降低量化分辨率带来的量化误差，提高了SAR‑ADC的精度。