[发明专利]利用扰动处理SAR-ADC量化误差校正的方法和系统

权利要求书

1.利用扰动处理SAR-ADC量化误差校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)SAR-ADC对差分模拟信号V_p和V_n进行采样；

2)对采样的差分模拟信号V_p和V_n进行量化；

3)在量化后，注入扰动周期T_D，在扰动周期T_D内辅助DAC电容阵列在SAR-ADC主电容阵列的正相和/或SAR-ADC主电容阵列的负相随机注入扰动V_Dp与V_Dn，对差分模拟信号V_p和V_n的最低位数字信号重新进行M次量化，差分模拟信号V_p和V_n的最低位数字信号在量化的过程中会随机产生M₁个正校正码和M₀个负校正码，其中，M₁+M₀＝M；M、M₁和M₀均为自然数，M₁个正校正码代表更高模拟输入的数字信号个数，M₀个负校正码代表更低模拟输入的数字信号个数；

根据M₁和M₀计算最低位数字信号的校正电压，计算公式为：

V_C为最低位的校正电压，V_LSB为最低位的分辨率电压。

2.如权利要求1所述的利用扰动处理SAR-ADC量化误差校正的方法，其特征在于，所述步骤3)中扰动注入周期包括控制扰动注入大小的扰动幅值控制逻辑和控制随机在SAR-ADC主电容阵列的正相和/或SAR-ADC主电容阵列的负相注入逻辑的扰动极性控制逻辑；

扰动幅值控制逻辑包括第一PRBS发生器、第二PRBS发生器，移位寄存器A、移位寄存器B、译码器A和译码器B；第一PRBS发生器通过移位寄存器A与译码器A连接，译码器A与辅助DAC电容阵列的正相连接，第一PRBS发生器产生的伪随机码存储在移位寄存器A中并不断更新，移位寄存器A中的伪随机码通过译码器A控制辅助DAC电容阵列的正向对应的开关S₁、开关S₂、开关S₃以及开关S₄的状态；第二PRBS发生器通过移位寄存器B与译码器B连接，译码器B与辅助DAC电容阵列的负相连接，第二PRBS发生器产生的伪随机码存储在移位寄存器B中并不断更新，移位寄存器B中的伪随机码通过译码器B控制辅助DAC电容阵列的负相对应的开关S₁、开关S₂、开关S₃以及开关S₄的状态；其中，第一PRBS发生器的级数为x_n；第二PRBS发生器的级数为x_p；

扰动极性控制逻辑包括第三PRBS发生器和移位寄存器C，第三PRBS发生器的级数为x_o，第三PRBS发生器产生的伪随机码存储在移位寄存器C中并不断更新，移位寄存器C内的伪随机码通过控制译码器A的工作状态和译码器B的工作状态进而控制SAR-ADC主电容阵列的正相和/或SAR-ADC主电容阵列的负相是否注入扰动。

3.如权利要求1所述的利用扰动处理SAR-ADC量化误差校正的方法，其特征在于，所述扰动周期T_D＝M×T₀，其中，M为最低位数字信号重新量化的次数，T₀为SAR-ADC主电容阵列进行一位量化所需要的时间。