[发明专利]照明场非均匀性检测系统的标定和校正方法及装置在审
| 申请号： | 202210914322.1 | 申请日： | 2022-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN115265767A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 罗先刚;吴斯翰;李奕;张绍宇;邵洪禹;何渝;赵立新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02;G01J1/42;G01J1/44;G06T3/40;G06T7/62;G06T7/80 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王文思 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开提供一种照明场非均匀性检测系统的标定和校正方法及装置，方法包括：将针孔贴近安装在光电探测器的感光面；控制位移台带动光电探测器在照明场中步进扫描目标位置采集响应信号，根据响应信号在横向和纵向的分布获取光照强度分布视为均匀的照明场；控制位移台带动图像传感器在照明场中步进扫描目标位置采集响应图像，在每一光照辐射强度下，基于光照强度分布视为均匀的照明场对响应图像进行处理，得到定标图像；对不同辐射强度得到的多个定标图像进行拟合，得到定标参数；根据定标参数对待标定响应图像进行校正，利用校正后的待标定响应图像的灰度分布的非均匀性确定当前状态下的照明场内光照强度分布的非均匀性。该标定与校正方法系统性高。 | ||
| 搜索关键词： | 照明 均匀 检测 系统 标定 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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