[发明专利]一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构在审
| 申请号： | 202210826512.8 | 申请日： | 2022-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN114994515A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 苏州辉垦电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215134 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构，包括基座，基座的下方连接有固定座，基座的上表面开设有两个第三凹槽和两个第五凹槽，第三凹槽内设有第一安装孔，第五凹槽内设有第二安装孔，固定座上设有两个第三安装孔和两个第四安装孔，第三凹槽内装设有第一底板，第一底板的下方连接有多个第一探针固定板，第一底板和第一探针固定板上均设有多个第一探针插孔，第五凹槽内装设有第二底板，第二底板的下方连接有多个第二探针固定板，第二底板和第二探针固定板上均设有多个第二探针插孔，第一探针插孔和第二探针插孔内均插设有探针，固定座的侧边设有多个上下倾斜的斜槽。本发明的有益效果是：该探针塔结构的高度调节方便、简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 方便 调节 高度 芯片 测试 探针 结构 | ||
【主权项】：
暂无信息
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