[发明专利]一种三维测量系统工具坐标系标定方法在审
申请号: | 202210785956.1 | 申请日: | 2022-07-04 |
公开(公告)号: | CN115127497A | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 郭艺璇;郭一帆;唐玉儒;宋宝;唐小琦 | 申请(专利权)人: | 武汉科技大学 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01B21/20;G06F17/16 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 刘琰 |
地址: | 430081 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种三维测量系统工具坐标系标定方法,该标定方法包括以下步骤:步骤S1,设计测量程序并采集测量点数据;步骤S2,求解姿态矩阵参数初始值;步骤S3,辨识正交化姿态矩阵参数误差;步骤S4,判断姿态矩阵是否满足约束条件。本发明节约了测量成本,提高了标定效率;在传统姿态矩阵正交化程序的基础上,建立了新姿态矩阵参数误差辨识模型,通过循环逼近的方式辨识得到姿态矩阵参数误差,进一步提高了辨识精度。本发明解决了因测量头姿态误差导致测量系统测量精度下降的问题,同时对矩阵正交化程序带来的误差进行迭代辨识,直至得到高精度的满足旋转矩阵特性的姿态矩阵,具有标定精度高、成本低、快速等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 测量 系统 工具 坐标系 标定 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉科技大学,未经武汉科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210785956.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。