[发明专利]缺陷样本生成方法、装置、自动光学检测仪及存储介质在审
| 申请号： | 202210773519.8 | 申请日： | 2022-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN115294419A | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 王锦峰;廖红俊;吴卫东 | 申请（专利权）人： | 东莞市神州视觉科技有限公司 |
| 主分类号： | G06V10/774 | 分类号： | G06V10/774;G06V10/22;G06V10/26;G06V10/56;G06V10/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 侯军洋 |
| 地址： | 523128 广东省东莞*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种缺陷样本生成方法、装置、自动光学检测仪及存储介质。该缺陷样本生成方法包括：以AOI检测设备检测后输出的正常样本为研究对象，并利用元器件定位方法提取焊点图像，通过分析缺陷样本焊点区域的特征，把缺陷的定性特征转换成了便于建模分析的定量的特征，运用图形建模和图像处理技术提供了缺陷样本生成的完整方案。实现对多种缺陷样本的生成，且便于批量生成缺陷样本，有较强的创新性和应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 样本 生成 方法 装置 自动 光学 检测 存储 介质 | ||
【主权项】：
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