[发明专利]芯片检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210769973.6 | 申请日： | 2022-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN114994514A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 金煜昊;李绍瑜;吕后阳 | 申请（专利权）人： | 浙江地芯引力科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 王卫丽 |
| 地址： | 311215 浙江省杭州市萧*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提出一种芯片检测方法、装置、设备及存储介质，该芯片检测方法，基于预设检测电路，预设检测电路包括依次连接的芯片接口、上拉电阻及电源接口，芯片接口用于接入待测芯片，且芯片接口和电源接口均连接单片机；方法包括：检测单片机向预设检测电路供电过程中，待测芯片所呈现的待测特性数据；待测特性数据至少包括两组电压相关的特性参数；根据待测特性数据和预设基准芯片的对应特性数据，确定待测芯片和预设基准芯片是否具有相同的特性。本申请能够大大提高区分检测的准确性，减少传统方法造成的误判和漏判现象。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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