[发明专利]一种高线性度GaN基HEMT器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210767532.2 申请日: 2022-07-01
公开(公告)号: CN114975624A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 刘志宏;樊雨佳;徐美;许淑宁;邢伟川;周瑾;危虎;杨伟涛;冯欣;张进成;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学广州研究院;西安电子科技大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 刘娜
地址: 510700 广东省广州市黄*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种高线性度GaN基HEMT器件结构及其制备方法,该结构从下往上依次包括衬底、成核层、缓冲层、沟道层、势垒层,势垒层上方设有漏电极、栅电极,漏电极与栅电极之间的势垒层上方为第一钝化层;势垒层和沟道层的一端部设置有凹槽,凹槽中设置有源电极,源电极与栅电极之间的势垒层上方为第二钝化层,漏电极与二维电子气形成欧姆接触;源电极与二维电子气形成肖特基接触,使源电阻RS随沟道电流的增大而减小,从而提高了GaN基HEMT的跨导平坦度和线性度。
搜索关键词: 一种 线性 gan hemt 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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