[发明专利]测试电路、测试方法及显示装置有效
| 申请号： | 202210756422.6 | 申请日： | 2022-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN115050295B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 周秀峰;袁鑫;袁海江 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 杨博 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供的一种测试电路、测试方法及显示装置，通过设置第一测试模块、第二测试模块以及自锁模块，自锁模块择一启动两个测试模块，无需在一个阶段测试时切除另一个测试模块，并且在像素元件测试单元的基础上控制单元，所述每个控制单元均响应于高电平输出低电平，每个测试单元响应于对应的控制单元输出的低电平而关闭，以在其中一个测试单元运行测试时，另一个测试单元关闭，从而可以实现其中一个测试单元进行测试时，另一个测试单元通过自锁而关闭，因此在各个测试阶段相互之间不会受到影响，同时采用独立的测试电路进行测试，无需面板上的测试电路，不会受到信号数量等限制。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 方法 显示装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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