[发明专利]质子交换膜导电率测量方法、装置、设备、介质和产品在审
| 申请号： | 202210746980.4 | 申请日： | 2022-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN115047251A | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | 郭建伟;王建龙 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 朱五云 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种质子交换膜导电率测量方法、装置、设备、介质和产品。所述方法包括：通过铂网电极获取质子交换膜透膜方向的测量电压；铂网电极分别与质子交换膜两侧的表面接触；根据测量电压和预先获取到的频率响应曲线，确定质子交换膜透膜方向的导电率。采用本方法能够减小电极和质子交换膜之间的接触电阻，提高质子交换膜透膜方向导电率测量的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 质子 交换 导电 测量方法 装置 设备 介质 产品 | ||
【主权项】：
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