[发明专利]超快光谱强度和相位信息测量方法及装置在审
| 申请号： | 202210701641.4 | 申请日： | 2022-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN115165106A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 张新亮;张驰;李仑;蔡宇翀;李耀帅;刘辰 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超快光谱强度和相位信息测量方法及装置，方法为：待测信号通过色散作用将其频谱成分信息映射到不同的时间位置；将超短光脉冲经色散展宽得到其时域光谱，形成啁啾扫频源；将二者在相干接收系统中实现相干探测及光电信号转化，后经数据处理加载虚拟时域透镜，恢复待测信号的时域聚焦光谱强度和相位信息；装置包括第一、第二色散补偿光纤，第一光纤锁模激光器，光学带通滤波器、光信号放大器，第一、第二偏振控制器，相干接收机和实时示波器。本发明能在探测光谱带宽大于20nm的同时实现光谱的强度和相位信息实时恢复，测量帧速率可达20MHz，在高速动态光谱强度和相位信息监测及瞬态光谱强度和相位信息实时捕捉应用场景中有重要的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 强度 相位 信息 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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