[发明专利]一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统在审
| 申请号： | 202210697568.8 | 申请日： | 2022-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN114944187A | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 赵超;郭雁蓉;匡乃亮;赵国良;李庆 | 申请（专利权）人： | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/04 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王艾华 |
| 地址： | 710000 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统，包括测试夹具、PCB板和驱动电路；测试夹具固定在PCB板上，测试夹具用于夹持被测器件，被测器件与PCB板进行电连接，所述被测器件的顶部设置有加热装置；被测器件的底部设置有测温传感器，测温传感器与PCB板进行电连接；所述驱动电路设置在PCB板上，被测器件的电路与驱动电路进行电连接。测试夹具底部的PCB板中心开设有通孔，所述PCB板的底部固定有加强板，所述加强板的中心设置有凹槽，凹槽内部设置有弹簧，弹簧的顶部设置有测温传感器。以解决信号长线传输延迟问题，提升工作频率，提升老化效率、控制老化成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 tsv 堆叠 存储器 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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