[发明专利]基于高光谱的室外绝缘子污秽程度检测方法及其系统在审
| 申请号： | 202210654271.3 | 申请日： | 2022-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN115165908A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 吴广宁;林柯心;郭裕钧;张血琴;肖嵩;魏文赋;黄桂灶;高国强 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94;G01N21/25;G06V20/10;G06V10/141;G06V10/70;G06V10/82 |
| 代理公司： | 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 | 代理人： | 王玲玲 |
| 地址： | 610031*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于高光谱的室外绝缘子污秽程度检测方法及其系统，检测方法包括采集室外待检测绝缘子的室外高光谱图像；将已知的室内高光谱图像和室外高光谱图像的光谱曲线全波段区间分别划分为若干组波段子区间，并计算室外波段子区间的光谱相对于室内对应波段子区间的光谱的突变程度；当突变程度小于预设阈值，则将室外波段子区间存储至第一集合；当突变程度大于等于预设阈值，则将室外波段子区间存储至第二集合；获取转换矩阵，并采用转换矩阵对第二集合中光谱的每个波长点进行校正，得到第三集合；采用第一集合和第三集合重构室外光谱，并采用室内污秽程度检测模型对重构的室外光谱进行检测，得到室外绝缘子的污秽程度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光谱 室外 绝缘子 污秽 程度 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
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