[发明专利]一种具有抗反射功能的EML芯片结构及制备方法在审

专利信息
申请号: 202210646936.6 申请日: 2022-06-09
公开(公告)号: CN114725772A 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 张海超;李马惠;师宇晨;穆瑶;王兴 申请(专利权)人: 陕西源杰半导体科技股份有限公司
主分类号: H01S5/0625 分类号: H01S5/0625;H01S5/12;H01S5/343
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 张宇鸽
地址: 710000 陕西省西安市西咸*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开具有抗反射功能的EML芯片结构及制备方法,包括:从下至上依次堆叠的N面电极、InP衬底、光栅层、光栅覆盖层和导电覆盖层;N面电极、高反射镀膜层、抗反射镀膜层和导电覆盖层形成封闭空间;高反射镀膜层和抗反射镀膜层相对设立;N面电极和导电覆盖层设置在高反射镀膜层和抗反射镀膜层之间,相互远离的两端;DFB量子阱和EAM量子阱位于InP衬底上;DFB量子阱上有光栅层,光栅覆盖层覆盖在DFB量子阱上;导电覆盖层覆盖在光栅覆盖层上;DFB光源电极、EAM吸收电极和光隔离区电极设置在导电覆盖层的上表面;第一隔离区、第二隔离区和第三隔离区位于导电覆盖层内部。本发明有易操作,改善效果显著等优点。
搜索关键词: 一种 具有 反射 功能 eml 芯片 结构 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陕西源杰半导体科技股份有限公司,未经陕西源杰半导体科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210646936.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top