[发明专利]一种具有抗反射功能的EML芯片结构及制备方法在审
申请号: | 202210646936.6 | 申请日: | 2022-06-09 |
公开(公告)号: | CN114725772A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 张海超;李马惠;师宇晨;穆瑶;王兴 | 申请(专利权)人: | 陕西源杰半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | H01S5/0625 | 分类号: | H01S5/0625;H01S5/12;H01S5/343 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 张宇鸽 |
地址: | 710000 陕西省西安市西咸*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开具有抗反射功能的EML芯片结构及制备方法,包括:从下至上依次堆叠的N面电极、InP衬底、光栅层、光栅覆盖层和导电覆盖层;N面电极、高反射镀膜层、抗反射镀膜层和导电覆盖层形成封闭空间;高反射镀膜层和抗反射镀膜层相对设立;N面电极和导电覆盖层设置在高反射镀膜层和抗反射镀膜层之间,相互远离的两端;DFB量子阱和EAM量子阱位于InP衬底上;DFB量子阱上有光栅层,光栅覆盖层覆盖在DFB量子阱上;导电覆盖层覆盖在光栅覆盖层上;DFB光源电极、EAM吸收电极和光隔离区电极设置在导电覆盖层的上表面;第一隔离区、第二隔离区和第三隔离区位于导电覆盖层内部。本发明有易操作,改善效果显著等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 反射 功能 eml 芯片 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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