[发明专利]Y电容的测试方法、测试设备、存储介质及处理器在审
| 申请号： | 202210618279.4 | 申请日： | 2022-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN115078844A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 盛毅;李威;梁士福;王伯军;刘嘉奇;刘健;唐家铭 | 申请（专利权）人： | 中国第一汽车股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134 | 代理人： | 谢湘宁 |
| 地址： | 130011 吉林省长*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种Y电容的测试方法、测试设备、存储介质及处理器。Y电容的测试方法包括控制放电电路上的第一开关闭合，检测放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压，判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件，如果是，生成测试指令，其中，测试指令用于测量并记录程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值，基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值，确定Y电容的电容值。采用本申请的技术方案，通过放电电路保证了初始状态Y电容两端的电压为零，而且用测量充电电阻的电压值来代替测量Y电容的电压，可以更加精确计算Y电容的数值。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 测试 方法 设备 存储 介质 处理器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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