[发明专利]用于测量的基于短模式波形数据库的机器学习在审
| 申请号： | 202210573302.2 | 申请日： | 2022-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN115378773A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 谈侃;J·J·皮克德 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | H04L25/03 | 分类号： | H04L25/03;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 黄涛;吕传奇 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测试和测量系统包括被配置为从被测设备接收信号的测试和测量设备以及一个或多个处理器，该处理器被配置为执行使一个或多个处理器执行以下操作的代码：从所述信号生成波形；对所述波形应用均衡器；接收输入，所述输入识别要对所述波形进行的一个或多个测量；针对已知数据模式选择单位间隔(UI)的数量；针对长度等于UI的数量的已知数据模式扫描所述波形；将所述已知数据模式识别为短模式波形；将机器学习系统应用于所述短模式波形以获得针对所述一个或多个测量的值；以及提供针对所述波形的所述一个或多个测量的值。一种方法包括：从被测设备接收信号；从所述信号生成波形；对所述波形应用均衡器；接收输入，所述输入识别要对所述波形进行的一个或多个测量；选择单位间隔(UI)的数量；扫描所述波形以识别长度等于UI的数量的短模式波形；将机器学习系统应用于所述短模式波形以获得针对所述一个或多个测量的值；和提供来自所述机器学习系统的针对所述波形的所述一个或多个测量的值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 基于 模式 波形 数据库 机器 学习 | ||
【主权项】：
暂无信息
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