[发明专利]样品的表征方法在审
申请号: | 202210571405.5 | 申请日: | 2022-05-24 |
公开(公告)号: | CN114923938A | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 张云静;石泉;刘军;李国梁;魏强民 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20;G01N23/20008 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 高柏通 |
地址: | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了一种样品的表征方法,包括:对样品进行电子能量损失谱分析,获得所述目标层的第一电子能量损失谱;根据第一电子能量损失谱的零损谱获得所述样品目标层的相对厚度;对样品进行X方向切片,获得样品的真实厚度;根据样品目标层的相对厚度和真实厚度计算平均自由程。本申请样品的表征方法,通过样品目标层的第一电子能量损失谱的零损谱以及样品的真实厚度,获得样品目标层的平均自由程,然后根据平均自由程获得样品目标层的其他表征参数。 | ||
搜索关键词: | 样品 表征 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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